ESR Characterization of Oligomeric Thiophene Materials

• 作者Diers, James R.; DeArmond, M. Keith; Guay, Jean; Diaz, Art; Wu, Rulian; Schumm, Jeffry S.; Tour, James M.
• 卷第6卷
• 期第3期
• 印刷ISSN0897-4756
• 电子ISSN1520-5002
• 文件大小652.63KB
• 发表时间1994
• DOI10.1021/cm00039a013
• 页码327-332