Comet — A new method for the deterministic test pattern generation in c-circuits
Stavros P Dokouzyannis; John M Kontoleon
- 作者Stavros P Dokouzyannis; John M Kontoleon
- 卷第34卷
- 期第11期
- 印刷ISSN0026-2714
- 文件大小586.95KB
- 发表时间1994
- DOI10.1016/0026-2714(94)90130-9
- 页码1761-1775