Cryogenic precision capacitance bridge using a single electron tunneling electrometer
- 作者Ruby N. Ghosh; Edwin R. Williams; Alan F. Clark; Robert J. Soulen Jr.
- 印刷ISSN0921-4526
- 文件大小139.29KB
- 发表时间1994
- DOI10.1016/0921-4526(94)90833-8
- 页码1007-1008
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