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X-ray microanalysis of thin film layered specimens containing light elements

X-ray microanalysis of thin film layered specimens containing light elements

David G. Rickerby; Jean-François Thiot
  • 作者David G. Rickerby; Jean-François Thiot
  • 期第1期
  • 印刷ISSN0026-3672
  • 电子ISSN1436-5073
  • 文件大小679.57KB
  • 发表时间1994
  • DOI10.1007/bf01244569
  • 页码421-429
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