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Critical area analysis for design-based yield improvement of vlsi circuits

Critical area analysis for design-based yield improvement of vlsi circuits

Doris Schmitt-Landsiedel; Doris Keitel-Schulz; Jitendra Khare; Susanne Griep; Wojciech Maly
  • 作者Doris Schmitt-Landsiedel; Doris Keitel-Schulz; Jitendra Khare; Susanne Griep; Wojciech Maly
  • 卷第11卷
  • 期第4期
  • 印刷ISSN0748-8017
  • 电子ISSN1099-1638
  • 文件大小443.71KB
  • 发表时间1995
  • DOI10.1002/qre.4680110403
  • 页码227-232
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