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$Surface X-ray diffraction study on the Si(001)2 × 1 structure$

Surface X-ray diffraction study on the Si(001)2 × 1 structure

M. Takahasi; S. Nakatani; Y. Ito; T. Takahashi; X.W. Zhang; M. Ando

作者M. Takahasi; S. Nakatani; Y. Ito; T. Takahashi; X.W. Zhang; M. Ando
卷第338卷
印刷ISSN0039-6028
文件大小398.30KB
发表时间1995
DOI10.1016/0039-6028(95)00663-x

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