An approach to quantitative high-resolution transmission electron microscopy of crystalline materials

• 作者C. Kisielowski; P. Schwander; F.H. Baumann; M. Seibt; Y. Kim; A. Ourmazd
• 卷第58卷
• 期第2期
• 印刷ISSN0304-3991
• 文件大小9138.27KB
• 发表时间1995
• DOI10.1016/0304-3991(94)00202-x
• 页码131-155