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Interfacial roughness scaling and strain in lattice mismatched Si0.4Ge0.6 thin films on Si

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Ming, Z. H.; Huang, S.; Soo, Y. L.; Kao, Y. H.; Carns, T.; Wang, K. L.

期刊名称Applied Physics Letters
作者Ming, Z. H.; Huang, S.; Soo, Y. L.; Kao, Y. H.; Carns, T.; Wang, K. L.
卷第67卷
期第5期
印刷ISSN0003-6951
文件大小313.03KB
发表时间1995
DOI10.1063/1.115411

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