Size effects in submicron NiFe/Ag GMR devices
Russek, S.E.; Cross, R.W.; Sanders, S.C.; Oti, J.O.
- 期刊名称IEEE Transactions on Magnetics
- 作者Russek, S.E.; Cross, R.W.; Sanders, S.C.; Oti, J.O.
- 卷第31卷
- 期第6期
- 印刷ISSN0018-9464
- 文件大小416.04KB
- 发表时间1995
- DOI10.1109/20.489823
- 页码3939-3942