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The NNO Defect in Silicon

Berg Rasmussen, F.; Öberg, Sven; Jones, R.; Ewels, C.P.; Goss, J.P.; Miró, J.; Deák, Peter

期刊名称Materials Science Forum
作者Berg Rasmussen, F.; Öberg, Sven; Jones, R.; Ewels, C.P.; Goss, J.P.; Miró, J.; Deák, Peter
电子ISSN1662-9752
文件大小384.89KB
发表时间1995
DOI10.4028/www.scientific.net/MSF.196-201.791
页码791-796