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Discharging Current Transient Spectroscopy for Evaluating Traps in Insulators

Discharging Current Transient Spectroscopy for Evaluating Traps in Insulators

H. Matsuura; M. Yoshimoto; H. Matsunami

作者H. Matsuura; M. Yoshimoto; H. Matsunami
文件大小561.58KB
发表时间1995
DOI10.1143/JJAP.34.L185

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