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Characterization of Metal/Si1-xGex/Si Diodes Fabricated by Cryogenic Processing

Characterization of Metal/Si1-xGex/Si Diodes Fabricated by Cryogenic Processing

He, L.; Li, E.; Shi, Z.Q.; Jiang, R.L.; Liu, J. L.; Shi, Y.; Zheng, Y.D.

期刊名称MRS Proceedings
作者He, L.; Li, E.; Shi, Z.Q.; Jiang, R.L.; Liu, J. L.; Shi, Y.; Zheng, Y.D.
卷第379卷
电子ISSN1946-4274
文件大小290.04KB
发表时间1995-1
DOI10.1557/proc-379-121

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