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$Investigation of Si Surface by Reflection High-Energy Electron Diffraction Using the Imaging Plate$

Investigation of Si Surface by Reflection High-Energy Electron Diffraction Using the Imaging Plate

Miura, Hiroshi; Ohtaka, Kouichi; Shindo, Daisuke; Oikawa, Tetsuo

期刊名称Materials Transactions, JIM
作者Miura, Hiroshi; Ohtaka, Kouichi; Shindo, Daisuke; Oikawa, Tetsuo
卷第36卷
期第11期
印刷ISSN0916-1821
电子ISSN1347-5320
文件大小872.45KB
发表时间1995
DOI10.2320/matertrans1989.36.1403
页码1403-1405

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