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Defect-related versus excitonic visible light emission from ion beam synthesized Si nanocrystals in SiO2

Min, K. S.; Shcheglov, K. V.; Yang, C. M.; Atwater, Harry A.; Brongersma, M. L.; Polman, A.

期刊名称Applied Physics Letters
作者Min, K. S.; Shcheglov, K. V.; Yang, C. M.; Atwater, Harry A.; Brongersma, M. L.; Polman, A.
卷第69卷
期第14期
印刷ISSN0003-6951
文件大小484.56KB
发表时间1996
DOI10.1063/1.116870