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Studies on quantitative x-ray diffraction characterization of phase depth profiles

Studies on quantitative x-ray diffraction characterization of phase depth profiles

Luo, Jian; Tao, Kun; Yin, Hong; Du, Yong
  • 期刊名称Review of Scientific Instruments
  • 作者Luo, Jian; Tao, Kun; Yin, Hong; Du, Yong
  • 卷第67卷
  • 期第8期
  • 印刷ISSN0034-6748
  • 文件大小353.00KB
  • 发表时间1996
  • DOI10.1063/1.1147124
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