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Ultrafast voltage-contrast scanning probe microscopy

Ultrafast voltage-contrast scanning probe microscopy

F. Ho; A. S. Hou; B. A. Nechay; D. M. Bloom

作者F. Ho; A. S. Hou; B. A. Nechay; D. M. Bloom
文件大小343.98KB
发表时间1996
DOI10.1088/0957-4484/7/4/014

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