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Low frequency noise characterization of 0.25 μm Si CMOS transistors

Low frequency noise characterization of 0.25 μm Si CMOS transistors

T. Boutchacha; G. Ghibaudo; G. Guégan; M. Haond

作者T. Boutchacha; G. Ghibaudo; G. Guégan; M. Haond
卷第216卷
文件大小351.10KB
发表时间1997
DOI10.1016/s0022-3093(97)00212-3
页码192-197

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