Intrinsic Defects in Cubic Silicon Carbide

H. Itoh; A. Kawasuso; T. Ohshima; M. Yoshikawa; I. Nashiyama; S. Tanigawa; S. Misawa; H. Okumura; S. Yoshida

作者H. Itoh; A. Kawasuso; T. Ohshima; M. Yoshikawa; I. Nashiyama; S. Tanigawa; S. Misawa; H. Okumura; S. Yoshida
卷第162卷
期第1期
印刷ISSN1862-6319
文件大小431.36KB
发表时间1997
DOI10.1002/1521-396x(199707)162:1<173::aid-pssa173>3.0.co;2-w
页码173-198

发现好书期刊，享受阅读乐趣