[IEEE SISPAD '97. 1997 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices. Technical Digest - Cambridge, MA, USA (8-10 Sept. 1997)] SISPAD '97. 1997 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices. Technical Digest - Physical modeling of transient enhanced diffusion and dopant deactivation via extended defect evolution
- 作者Gencer, A.H.; Chakravarthi, S.; Dunham, S.T.
- 文件大小377.37KB
- 发表时间1997
- DOI10.1109/SISPAD.1997.621340
- 页码77-80
Process tomography and flow visualizationMi Wang; Judith Squires · 2007
Book reviewJudith Squires · 2006
Difference or Compromise?Judith Squires · 2002
Liberal Constitutionalism, Identity and DifferenceJudith Squires · 1996
Gender and Minority Representation in ParliamentJudith Squires · 2010
[untitled]Review by: Judith Squires · Canadian Journal of Political Science / Revue canadienne de science politique · 2001
Democracy as flawed hegemonSquires, Judith · Economy and Society · 2002
Front MatterTársadalom és gazdaság Közép- és Kelet-Európában / Society and Economy in Central and Eastern Europe · 1997
Front MatterTársadalom és gazdaság Közép- és Kelet-Európában / Society and Economy in Central and Eastern Europe · 1996
Front MatterTársadalom és gazdaság Közép- és Kelet-Európában / Society and Economy in Central and Eastern Europe · 1995
Front MatterTársadalom és gazdaság Közép- és Kelet-Európában / Society and Economy in Central and Eastern Europe · 1998
Front MatterTársadalom és gazdaság Közép- és Kelet-Európában / Society and Economy in Central and Eastern Europe · 1999
Front MatterTársadalom és gazdaság Közép- és Kelet-Európában / Society and Economy in Central and Eastern Europe · 2000
Front MatterTársadalom és gazdaság Közép- és Kelet-Európában / Society and Economy in Central and Eastern Europe · 1996
Front MatterTársadalom és gazdaság Közép- és Kelet-Európában / Society and Economy in Central and Eastern Europe · 2001