A structural investigation of high-quality epitaxial thin films
L. X. Cao; Y. Xu; B. R. Zhao; L. P. Guo; L. Li; B. Xu; Y. Z. Zhang; H. Chen; A. J. Zhu; Z. H. Mai; J. H. Zhao; Y. F. Fu; X. J. Li
- 作者L. X. Cao; Y. Xu; B. R. Zhao; L. P. Guo; L. Li; B. Xu; Y. Z. Zhang; H. Chen; A. J. Zhu; Z. H. Mai; J. H. Zhao; Y. F. Fu; X. J. Li
- 文件大小326.68KB
- 发表时间1997
- DOI10.1088/0022-3727/30/10/011