Metallic transport properties of amorphous nickel - silicon films
R. Rosenbaum; A. Heines; A. Palevski; M. Karpovski; A. Gladkikh; M. Pilosof; A. J. Daneshvar; M. R. Graham; T. Wright; J. T. Nicholls; C. J. Adkins; M. Witcomb; V. Prozesky; W. Przybylowicz; R. Pretorius
- 作者R. Rosenbaum; A. Heines; A. Palevski; M. Karpovski; A. Gladkikh; M. Pilosof; A. J. Daneshvar; M. R. Graham; T. Wright; J. T. Nicholls; C. J. Adkins; M. Witcomb; V. Prozesky; W. Przybylowicz; R. Pretorius
- 文件大小229.29KB
- 发表时间1997
- DOI10.1088/0953-8984/9/25/008