CR-39 sensitivity analysis on heavy ion beam with atomic force microscope

M. Yamamoto; N. Yasuda; Y. Kaizuka; M. Yamagishi; T. Kanai; N. Ishigure; A. Furukawa; M. Kurano; N. Miyahara; M. Nakazawa; T. Doke; K. Ogura

作者M. Yamamoto; N. Yasuda; Y. Kaizuka; M. Yamagishi; T. Kanai; N. Ishigure; A. Furukawa; M. Kurano; N. Miyahara; M. Nakazawa; T. Doke; K. Ogura
卷第28卷
印刷ISSN1350-4487
文件大小228.12KB
发表时间1997
DOI10.1016/s1350-4487(97)00073-5
页码227-230

发现好书期刊，享受阅读乐趣