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Piezoelectric measurements with atomic force microscopy

Piezoelectric measurements with atomic force microscopy

Christman, J. A.; Woolcott, R. R.; Kingon, A. I.; Nemanich, R. J.

作者Christman, J. A.; Woolcott, R. R.; Kingon, A. I.; Nemanich, R. J.
卷第73卷
期第26期
电子ISSN0003-6951
文件大小284.87KB
发表时间1998
DOI10.1063/1.122914

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