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Measurement of bulk etch rate of CR-39 with atomic force microscopy

Measurement of bulk etch rate of CR-39 with atomic force microscopy

N. Yasuda; M. Yamamoto; N. Miyahara; N. Ishigure; T. Kanai; K. Ogura

作者N. Yasuda; M. Yamamoto; N. Miyahara; N. Ishigure; T. Kanai; K. Ogura
卷第142卷
印刷ISSN0168-583X
文件大小219.02KB
发表时间1998
DOI10.1016/s0168-583x(98)00267-5
页码111-116

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