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Read-disturb and endurance of SSI-flash E2PROM devices at high operating temperatures

De Blauwe, J.; Wellekens, D.; Groeseneken, G.; Haspeslagh, L.; Van Houdt, J.; Deferm, L.; Maes, H.E.

作者De Blauwe, J.; Wellekens, D.; Groeseneken, G.; Haspeslagh, L.; Van Houdt, J.; Deferm, L.; Maes, H.E.
卷第45卷
期第12期
印刷ISSN0018-9383
电子ISSN1557-9646
文件大小270.06KB
发表时间1998
DOI10.1109/16.735723
页码2466-2474