An optical and transmission electron microscopy study of deformation-induced defects in 6H-SiC

• 作者Samant, A. V.; Wei, X. L.; Pirouz, P.
• 卷第78卷
• 期第3期
• 印刷ISSN0141-8610
• 电子ISSN1460-6992
• 文件大小1665.04KB
• 发表时间1998
• DOI10.1080/01418619808241933
• 页码737-746