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ESD protection methodology for deep-sub-micron CMOS

ESD protection methodology for deep-sub-micron CMOS

K. Bock; G. Groeseneken; H.E. Maes

作者K. Bock; G. Groeseneken; H.E. Maes
卷第38卷
印刷ISSN0026-2714
文件大小1185.21KB
发表时间1998
DOI10.1016/s0026-2714(98)00148-6
页码997-1007

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