An optical and transmission electron microscopy study of deformation-induced defects in 6H-SiC

• 期刊名称Philosophical Magazine A
• 作者Samant X. L.Wei P. Pirouz, A.V.
• 卷第78卷
• 期第3期
• 印刷ISSN0141-8610
• 电子ISSN1460-6992
• 文件大小597.81KB
• 发表时间1998-9-1
• DOI10.1080/014186198253480
• 页码737-746