Residual strain mapping in III–V materials by spectrally resolved scanning photoluminescence

• 作者M. Buchheit; A. Khoukh; M. Bejar; S.K. Krawczyk; R.C. Blanchet
• 卷第30卷
• 期第7期
• 印刷ISSN0026-2692
• 文件大小1510.24KB
• 发表时间1999
• DOI10.1016/s0026-2692(99)00007-5
• 页码651-657