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Voltage Relaxation and Its Influence on Critical Current Measurements

S. Y. Ding; H. Luo; Y. H. Zhang; Q. Ding; F. Y. Ling; P. Zhang; X. F. Wu; L. Qiu; X. X. Yao

作者S. Y. Ding; H. Luo; Y. H. Zhang; Q. Ding; F. Y. Ling; P. Zhang; X. F. Wu; L. Qiu; X. X. Yao
卷第13卷
期第3期
印刷ISSN0896-1107
电子ISSN1572-9605
文件大小111.10KB
发表时间2000-06
DOI10.1023/a:1007715411727
页码453-458