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Reduction of Number of Paths to be Tested in Delay Testing

Reduction of Number of Paths to be Tested in Delay Testing

Huawei Li; Zhongcheng Li; Yinghua Min
  • 作者Huawei Li; Zhongcheng Li; Yinghua Min
  • 卷第16卷
  • 期第5期
  • 印刷ISSN0923-8174
  • 电子ISSN1573-0727
  • 文件大小66.53KB
  • 发表时间2000-10
  • DOI10.1023/a:1008368615938
  • 页码477-485
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