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Interdiffusion in NiFe/Cu/NiFe trilayers: Possible failure mechanism for magnetoelectronic devices

Bruckner, W.; Baunack, S.; Hecker, M.; Monch, J.-I.; van Loyen, L.; Schneider, C. M.

作者Bruckner, W.; Baunack, S.; Hecker, M.; Monch, J.-I.; van Loyen, L.; Schneider, C. M.
卷第77卷
期第3期
电子ISSN0003-6951
文件大小307.01KB
发表时间2000
DOI10.1063/1.126975