The leakage currents of amorphous silicon thin-film transistors: injection currents, back channel currents and stress effects

• 作者Lemmi, F.; Street, R.A.
• 卷第47卷
• 期第12期
• 印刷ISSN0018-9383
• 电子ISSN1557-9646
• 文件大小105.05KB
• 发表时间2000
• DOI10.1109/16.887029
• 页码2404-2409