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Atomic mass spectrometry

Atomic mass spectrometry

Bacon, Jeffrey R.; Crain, Jeffrey S.; Van Vaeck, Luc; Williams, John G.

期刊名称Journal of Analytical Atomic Spectrometry
作者Bacon, Jeffrey R.; Crain, Jeffrey S.; Van Vaeck, Luc; Williams, John G.
卷第15卷
期第8期
印刷ISSN0267-9477
电子ISSN1364-5544
文件大小360.40KB
发表时间2000
DOI10.1039/B004111O
页码1025-1053

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