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Evaluating probes for “electrical” atomic force microscopy

Evaluating probes for “electrical” atomic force microscopy

T. Trenkler; T. Hantschel; R. Stephenson; P. De Wolf; W. Vandervorst; L. Hellemans; A. Malavé; D. Büchel; E. Oesterschulze; W. Kulisch; P. Niedermann; T. Sulzbach; O. Ohlsson
  • 作者T. Trenkler; T. Hantschel; R. Stephenson; P. De Wolf; W. Vandervorst; L. Hellemans; A. Malavé; D. Büchel; E. Oesterschulze; W. Kulisch; P. Niedermann; T. Sulzbach; O. Ohlsson
  • 卷第18卷
  • 期第1期
  • 文件大小933.29KB
  • 发表时间2000
  • DOI10.1116/1.591205
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