Über einige kalibrierte Rasterkraftmikroskope in der PTB (About Several Calibrated Scanning Force Microscopes in the PTB)

• 期刊名称tm – Technisches Messen
• 作者Hasche, Klaus; Herrmann, K.; Mirandé, W.; Seemann, R.; Ahbe, Th.; Büchner, H.
• 卷第67卷
• 印刷ISSN0171-8096
• 文件大小1152.12KB
• 发表时间2000-01
• DOI10.1524/teme.2000.67.7-8.306