Ion-bombardment effects on PtSi/n-Si Schottky contacts studied by ballistic electron emission microscopy
G. Ru; X. Qu; S. Zhu; B. Li; C. Detavernier; R. L. Van Meirhaeghe; F. Cardon; R. A. Donaton; K. Maex
- 作者G. Ru; X. Qu; S. Zhu; B. Li; C. Detavernier; R. L. Van Meirhaeghe; F. Cardon; R. A. Donaton; K. Maex
- 文件大小504.86KB
- 发表时间2000
- DOI10.1116/1.1305269