Use of microscopic XRF for non-destructive analysis in art and archaeometry
K. Janssens; G. Vittiglio; I. Deraedt; A. Aerts; B. Vekemans; L. Vincze; F. Wei; I. De Ryck; O. Schalm; F. Adams; A. Rindby; A. Knöchel; A. Simionovici; A. Snigirev
- 作者K. Janssens; G. Vittiglio; I. Deraedt; A. Aerts; B. Vekemans; L. Vincze; F. Wei; I. De Ryck; O. Schalm; F. Adams; A. Rindby; A. Knöchel; A. Simionovici; A. Snigirev
- 卷第29卷
- 期第1期
- 印刷ISSN0049-8246
- 电子ISSN1097-4539
- 文件大小3051.39KB
- 发表时间2000
- DOI10.1002/(sici)1097-4539(200001/02)29:1<73::aid-xrs416>3.0.co;2-m
- 页码73-91