Plasma damage in p-GaN

• 作者X. A. Cao; A. P. Zhang; G. T. Dang; F. Ren; S. J. Pearton; J. M. van Hove; R. A. Hickman; R. J. Shul; L. Zhang
• 卷第29卷
• 期第3期
• 印刷ISSN0361-5235
• 电子ISSN1543-186X
• 文件大小325.62KB
• 发表时间2000
• DOI10.1007/s11664-000-0059-7
• 页码256-261