Using quantitative electron microscopy for process mineralogy applications

• 作者P. Gottlieb; G. Wilkie; D. Sutherland; E. Ho-Tun; S. Suthers; K. Perera; B. Jenkins; S. Spencer; A. Butcher; J. Rayner
• 卷第52卷
• 期第4期
• 印刷ISSN1047-4838
• 电子ISSN1543-1851
• 文件大小175.80KB
• 发表时间2000
• DOI10.1007/s11837-000-0126-9
• 页码24-25