Characteristic impedance extraction using calibration comparison

• 作者Vandenberghe, S.; Schreurs, D.M.M.-P.; Carchon, G.; Nauwelaers, B.K.J.C.; De Raedt, W.
• 卷第49卷
• 期第12期
• 印刷ISSN0018-9480
• 电子ISSN1557-9670
• 文件大小216.49KB
• 发表时间2001
• DOI10.1109/22.971652
• 页码2573-2579