close to threshold
Meyer, H. O.; Wellinghausen, A.; Balewski, J. T.; Doskow, J.; Pollock, R. E.; Przewoski, B. v.; Rinckel, T.; Thörngren-Engblom, P.; Knutson, L. D.; Haeberli, W.; Lorentz, B.; Rathmann, F.; Schwartz, B.; Wise, T.; Daehnick, W. W.; Saha, Swapan K.; Pancella, P. V.
- 期刊名称Physical Review C
- 作者Meyer, H. O.; Wellinghausen, A.; Balewski, J. T.; Doskow, J.; Pollock, R. E.; Przewoski, B. v.; Rinckel, T.; Thörngren-Engblom, P.; Knutson, L. D.; Haeberli, W.; Lorentz, B.; Rathmann, F.; Schwartz, B.; Wise, T.; Daehnick, W. W.; Saha, Swapan K.; Pancella, P. V.
- 卷第63卷
- 期第6期
- 印刷ISSN0556-2813
- 电子ISSN1089-490X
- 文件大小341.38KB
- 发表时间2001-5-2
- DOI10.1103/PhysRevC.63.064002