Fabrication and characterization of Y-Ba-Cu-O and Nd-Ba-Cu-O ramp-edge junctions with an interface-modified barrier

• 期刊名称IEEE Transactions on Appiled Superconductivity
• 作者Makita, T.; Toma, K.; Ishikawa, K.; Zama, H.; Utagawa, T.; Kawabe, U.; Tanabe, K.
• 卷第11卷
• 期第1期
• 印刷ISSN1051-8223
• 文件大小437.15KB
• 发表时间2001-3
• DOI10.1109/77.919308
• 页码155-158