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Models of void electromigration

Models of void electromigration

CUMMINGS, L. J.; RICHARDSON, G.; BEN AMAR, M.
  • 期刊名称European Journal of Applied Mathematics
  • 作者CUMMINGS, L. J.; RICHARDSON, G.; BEN AMAR, M.
  • 卷第12卷
  • 期第2期
  • 印刷ISSN0956-7925
  • 电子ISSN1469-4425
  • 文件大小1277.32KB
  • 发表时间2001-4
  • DOI10.1017/S0956792501004326
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