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Scanning capacitance microscopy investigations of SiC structures

Scanning capacitance microscopy investigations of SiC structures

O. Bowallius; S. Anand; N. Nordell; G. Landgren; S. Karlsson

作者O. Bowallius; S. Anand; N. Nordell; G. Landgren; S. Karlsson
卷第4卷
印刷ISSN1369-8001
文件大小106.68KB
发表时间2001
DOI10.1016/s1369-8001(00)00132-3
页码209-211

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