Multipolishing and two-way plots
- 期刊名称Metrika
- 作者Stephan Morgenthaler; John W. Tukey
- 卷第53卷
- 期第3期
- 印刷ISSN0026-1335
- 电子ISSN1435-926X
- 文件大小379.04KB
- 发表时间2001-07
- DOI10.1007/s001840000108
- 页码245-267
同期刊推荐
General parametric linear fractional programmingG. K. Varma · Metrika · 1972
A dual non-linear programS. S. Chadha; R. N. Kaul · Metrika · 1972
Wahrscheinlichkeits- und WettbegriffJ. Humburg · Metrika · 1972
Zum Erschöpftheitsbegriff vonD. BlackwellH. Heyer · Metrika · 1972
Eine Verallgemeinerung des „Gesetzes seltener Ereignisse”W. Widdra · Metrika · 1972
A note on theParetodistributionM. Raghavachari · Metrika · 1972
Walter WegmüllerHans Riedwyl · Metrika · 1972
BuchbesprechungenP. Sint; J. Gordesch; L. Reisinger; A. Kaelin; P. Ihm; F. Streit; Karl Trautmann; Karl Trautmann · Metrika · 1972