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On IEEE P1500's Standard for Embedded Core Test

Erik Jan Marinissen; Rohit Kapur; Maurice Lousberg; Teresa McLaurin; Mike Ricchetti; Yervant Zorian

作者Erik Jan Marinissen; Rohit Kapur; Maurice Lousberg; Teresa McLaurin; Mike Ricchetti; Yervant Zorian
卷第18卷
印刷ISSN0923-8174
电子ISSN1573-0727
文件大小917.06KB
发表时间2002-08
DOI10.1023/a:1016585206097
页码365-383