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Electrical noise and RTS fluctuations in advanced CMOS devices

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G. Ghibaudo; T. Boutchacha
  • 作者G. Ghibaudo; T. Boutchacha
  • 卷第42卷
  • 印刷ISSN0026-2714
  • 文件大小274.90KB
  • 发表时间2002
  • DOI10.1016/s0026-2714(02)00025-2
  • 页码573-582
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