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Topographical, compositional and schottky characterization of PtSi/Si schottky diodes

Topographical, compositional and schottky characterization of PtSi/Si schottky diodes

M.C Li; L.C Zhao; D.G Liu; X.K Chen

作者M.C Li; L.C Zhao; D.G Liu; X.K Chen
卷第80卷
期第3期
印刷ISSN0254-0584
文件大小199.59KB
发表时间2003
DOI10.1016/s0254-0584(03)00090-7
页码620-624

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