Electrical conductivity imaging by magnetic resonance electrical impedance tomography (MREIT)
- 作者Suk H. Oh; Jae Y. Han; Soo Y. Lee; Min H. Cho; Byung I. Lee; Eung J. Woo
- 卷第50卷
- 期第4期
- 印刷ISSN0740-3194
- 电子ISSN1522-2594
- 文件大小296.26KB
- 发表时间2003
- DOI10.1002/mrm.10588
- 页码875-878